HD动态分析器自动化表面粗糙度测量

来自4D技术的纳米纳米HD表面粗糙度分析器利用动态干涉测量法,高速光学传感器比传统的分析器更快地测量数千次。由于采集时间如此短,因此尽管振动,纳米米高清可以测量,使得可以将仪器安装在龙门或机器人末端执行器以及抛光站内部以测量抛光质量。

纳米液高清光学分析仪的应用包括小型和大型涂层和未涂覆的光学,机表面粗糙度计量和用于抛光操作的过程控制的表面粗糙度,包括测量超波兰。

NanoIM HD新型自动对焦能力允许更快,更一致的测量,需要更少的手动调节,当测量反射率的零件从0.5%到100%且不改变参考光学器件时。单电缆,电源以太网运行可以与高速创新软件相结合,用于在笔记本电脑环境中进行数据采集和分析,以增加便携性。尽管噪音和振动,但仍然可以测量100μSEC的采集时间。

NanoIM HD动态光学分析器包括4Sight焦点高级分析软件,其报告ISO 25178表面粗糙度参数(S参数),并提供了广泛的2D和3D分析选项,数据过滤,屏蔽和导入/导出功能。

紧凑,轻质的纳米液体高清测量磁头测量为244 mm(9.6“)x 244 mm(9.6”)x 84 mm(3.3“),重4.5千克(10磅),使其非常易于定位。多个安装选项包括电动,操纵杆控制的三脚架,移动工作站和抛光设备的接口,龙门或机器人.Long工作距离干扰物体提供0.9倍至20x的放大率,以及通过玻璃测量的补偿目标。

想要查询更多的信息:www.4dtechnology.com.


主页链接