微型非接触式测量柱

新的TR Scan Compact Z是一个微型高度测量柱,允许非接触高度测量所有类型的材料,如黄金,软表面,透明表面等。

系统CCMP(共焦彩色显微镜点)技术,结合数码相机,允许可视化的“虚拟球”测量点在零件上。这种测量高度的方法使测量传统接触式传感器无法到达的地方成为可能。

Trimos Compact Z软件非常简单。它的理念是受Trimos高度计的启发,允许快速非接触高度测量,即使没有经验的用户。

桌子上的可选测量系统(X / Y)允许使用极快的Z测量系统(2000 Hz)快速和精确定位,允许动态高度测量在移动部件上。

Z轴行驶轮具有两种功能:快速移动和精细定位,可轻松调整工作距离。桌子的倾斜调整完成了桌子前面的两个旋钮。具有可调节外部光的视觉系统使得可以正确地查看电流测量区域。桌子的拇指轮允许在X&Y中精确移动。

更多信息:www.trimos.com.

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