蔡司首次推出晶体CT系统

蔡司研究显微镜解决方案推出了Xradia CrystalCT微计算机断层扫描(microCT)系统,使多晶材料的3D晶体成像广泛适用于金属和合金、增材制造、陶瓷和制药样品的工业和学术实验室。

Zeiss Xradia Crystalct是一个世界第一的商业实施,目的是在传统的计算机断层扫描系统中提供衍射对比度断层扫描(DCT),允许研究人员在三维中用晶体信息补充吸收对比度断层扫描数据。Zeiss Xradia Crystryct是最新的Xradia平台,用于交付DCT,与合作开发XNOVO技术APS,基于实验室的衍射成像的先驱。

通过高级采集模式促进了与传统破坏性的3D晶体方法相比,增加了数据量代表的无缝大容量晶粒映射,以快速准确的3D晶粒数据提供缝合扫描的高级采集模式。高级扫描模式进一步清除了高生产率实验室设置中各种常见样本的大小和采集速度的限制。运行更大的样本大小的能力消除了实验室中的限制,从而实现了更多的样本类型和更少的准备时间,从而实现更快的分析时间。更快的采集速度使样本运行时间更短,提高实验生产率。

图像晶粒结构的能力和量化诸如金属的材料中的潜在的晶体取向是有助于理解和优化材料特性。MicroCT成像的非破坏性性质有助于理解原位的微观结构演化,表征热,机械或环境条件对材料行为的影响。这些研究有助于评估新的,更浅,更强大的先进材料的性能和耐用性,以及解决功能,安全性和改进经济学等问题。

在ZEISS Xradia 620 Versa 3D x射线显微镜作为扩展模块提供之前,DCT成像只能从同步加速器中获得。除了作为DCT平台,ZEISS Xradia CrystalCT也是一个领先的微ct成像系统,为一系列3D成像需求提供卓越的分辨率和图像质量。它建立在高度稳定的ZEISS Xradia Versa基础上。

蔡司x射线显微镜公司的负责人丹尼尔·西姆斯说:凭借CrystalCT,我们将多年来在Xradia Versa平台上的领先创新和进步带给更广泛的用户。形成市场的CrystalCT为一系列3D成像需求提供了可靠的性能。我们的客户还享有投资保护,因为这个平台具有广泛的附加功能,具有高度的可扩展性,并且可以随着业务和实验室需求的扩大升级到Versa系列的顶级车型。”

Xnovo,Erik Lauridsen的首席执行官,评论,“我们很自豪地支持下一代基于实验室的衍射成像技术,现在允许更广泛地获得这种能力。基于我们在数据重建和分析方面的经验,我们能够将DCT方法转移到微计算机断层扫描平台上。蔡司的microCT系统为这种实现提供了理想的环境。”

想要查询更多的信息:www.zeiss.com/microscopy.


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